元件建模 WaferPro

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概述

元件建模 WaferPro 軟體對電晶體和電路元件等半導體元件執行自動晶圓級測量。它為各種儀器和晶圓探測器提供交鑰匙驅動程式和測試例程。其新的使用者介面使複雜的晶圓級測試計劃的設定和運行變得簡單，而最新的Python 3編程環境則實現了強大的自訂功能。

裝置建模 WaferPro 包括：

交鑰匙測試演算法和儀器驅動程式可縮短軟體學習曲線並加速設定測量系統和執行首次測量的過程。
支援各種探針製造商，包括 FormFactor Inc.、MPI Corporation 等。
現代且直覺的使用者介面使您能夠快速連接到儀器並定義測試計劃。
與 FormFactor 的最新控制軟體 Velox 3 獨家整合。
數據顯示晶圓映射數據檢視器等先進工具可在有效處理大量數據時提高生產效率。此外，Python/PEL程式設計環境可讓您自訂測試演算法和測量數據分析。

元件建模 WaferPro 也是德科技高階低頻噪音分析儀 (A-LFNA) 的軟體平台，這是一款高性能噪音分析儀，用於進行精確且可重複的低頻噪音測量。

下載最新版本

Integrated measurement systems

Device Modeling WaferPro is a software component of Integrated Measurement Systems (IMS), a joint partnership program by Keysight Technologies and FormFactor. IMS products drastically reduce the time to first measurement and provide accurate and repeatable device and component characterization.

Integrated Measurement System IMS-K-LFN - Integrated system with Keysight A-LFNA for 1/f flicker noise, RTN, phase noise, device characterization, and other low-frequency noise measurements
Integrated Measurement System IMS-K-DC - Integrated system with Keysight SPA for DC parametric measurements
Integrated Measurement System IMS-K-mmW/THz - Integrated Measurement System with Keysight VNA for S-parameters from RF to mmW to THz

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