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概述
積體電路特性化及分析程式(IC-CAP)是進行直流和射頻半導體元件建模的產業標準。IC-CAP 能夠萃取用於高速/數位、類比和功率射頻電路設計應用的精確且簡易的模型。現在大多數先進半導體代工廠和整合式元件製造商(IDM)都採用 IC-CAP 軟體,對矽晶 CMOS、Bipolar、化合物砷化鎵(GaAs)、氮化鎵(GaN)和許多其他元件技術進行建模。IC-CAP 是最先進、可客製化的建模軟體,其中包括量測、模擬、最佳化和統計分析工具。
IC-CAP 的關鍵優勢
- 開放軟體架構確保最佳的準確度,並提供最大靈活性,讓您能建立和自動執行量測、萃取和驗證程序
- 適用於 BSIM3/BSIM4、PSP 和 HiSIM 等產業標準 CMOS 模型的統包式萃取解決方案,可顯著縮短學習過程,提高模型準確度
- 可直接連接商業模擬器,確保萃取的模型與電路設計工程師所使用的模擬器之間的一致性
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All the tools and examples needed to characterize and model semiconductor devices. Includes the software environment, all measurement drivers, optimization, Python/PEL programming and all simulation links.
PathWave WaferPro for automated wafer-level measurement. All measurement drivers are included. Python/PEL programming enables custom measurement algorithms and drivers.
Measure and accurately model any GaN RF device with the physics-based industry-standard ASM-HEMT and the MVSG models, or use the established Angelov-GaN model.
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See also the W6325B PathWave MBP/IC-CAP Device Model Extraction and W6347B PathWave MQA/IC-CAP Modeling bundles.
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